XRD,即X射线衍射技术,广泛用于晶体结构的精确分析。X射线作为一种电磁波,当照射到晶体时,会在晶体内部引发周期性电磁场变化。这导致原子中的电子和原子核产生振动;由于原子核质量较大,其振动效应通常可忽略。振动的电子成为次级X射线的发射源,其波长和相位与入射光束保持一致。依托晶体结构的周期性特征,晶体中各电子的散射波会相互干涉和叠加,这一过程称为衍射。散射波在相位一致的方向上相互增强,形成衍射方向,并产生衍射线。
X射线在晶体中的衍射强度直接取决于晶胞内原子的元素类型、数量及其空间排列方式。
X射线衍射仪是一种基于衍射原理的非破坏性分析设备,由四大核心组件构成:X射线发生器、测角仪、X射线强度检测系统,以及控制与数据采集处理系统。
X射线衍射仪可分为X射线粉末衍射仪和X射线单晶衍射仪两大类型。由于制备大尺寸单晶样本较为困难,粉末衍射技术已成为主流分析方法。单晶衍射能解析分子内部的原子级空间结构,粉末衍射同样适用于结构分析,但对于复杂大分子(如蛋白质等)的处理仍具挑战性。
X射线粉末衍射仪的主要用途:
1. 鉴定物质是否具有晶体特性。
2. 识别特定晶体物质的类别。
3. 分析物质的晶型形态。
4. 计算材料内部的结构应力。
5. 定量测定混合物中各成分的比例。
6. 推导晶体结构的相关参数。
7. 通过跨学科应用拓展功能,例如依据晶体结构变化评估物质变形、变性或反应程度。
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